平晶测量平面性是根据什么原理?

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/11/16 06:48:54

平晶测量平面性是根据什么原理?
平晶测量平面性是根据什么原理?

平晶测量平面性是根据什么原理?
简单的说就是:光在平晶表面反射和被测表面反射回来的光线形成干涉现象.由于被测表面平面度的影响,干涉光线的光程差不同,因此形成干涉条纹.通过测量干涉条纹的弯曲量并计算可得被测样品的平面度.